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納米粒度分析儀

納米粒度分析儀

產(chǎn)品型號(hào): NANOTRAC FLEX

所屬分類(lèi):納米粒度分析儀

產(chǎn)品時(shí)間:2023-10-28

簡(jiǎn)要描述:NANOTRAC FLEX 納米粒度分析儀采用全新的動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)(DLS),引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生頻率變化的能譜概念,快速準(zhǔn)確地得到被測(cè)體系的納米粒度分布,外置固定式光學(xué)探頭滿(mǎn)足任何應(yīng)用需求。

詳細(xì)說(shuō)明:

納米粒度分析儀
NANOTRAC FLEX 納米粒度分析儀采用全新的動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)(DLS),引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生頻率變化的能譜概念,快速準(zhǔn)確地得到被測(cè)體系的納米粒度分布,外置固定式光學(xué)探頭滿(mǎn)足任何應(yīng)用需求。

eParticle Analyzer)研發(fā)成功,引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生頻率變化的能譜概念,快速準(zhǔn)確地得到被測(cè)體系的納米粒度分樣品,面積及光強(qiáng)分

 

 

 

 

外部環(huán)境:

電源要求:90-240VAC,5A,50/60Hz

環(huán)境要求:溫度,10-35°C

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):符合ISO13321,ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008

 

主要特點(diǎn):

• 采用先進(jìn)的動(dòng)態(tài)光散射技術(shù),引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法

• 異相多譜勒頻移技術(shù),較之傳統(tǒng)的方法,獲得光信號(hào)強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級(jí),提高分析結(jié)果的可靠性。

• 可控參比方法(CRM),能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜,確保分析的靈敏度。

• 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì),減少了多重散射現(xiàn)象的干擾,保證高濃度溶液中納米顆粒測(cè)試的準(zhǔn)確性。

• 快速傅利葉變換算法(FFT,F(xiàn)ast FourierTransform Algorithm Method),迅速處理檢測(cè)系統(tǒng)獲得的能譜,縮短分析時(shí)間。

• 膜電極設(shè)計(jì),避免產(chǎn)生熱效應(yīng),能準(zhǔn)確測(cè)量顆粒電泳速度。

• 消除多種空間位阻對(duì)散射光信號(hào)的干擾,諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失,樣品池位置不同帶來(lái)的誤差,比色皿器壁的折射與污染,分散介質(zhì)的影響,多重散射的衰減等,提高靈敏度。



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